描述:SX1934B型数字式四探针测试仪是一款多用途综合测量装置，可测量半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻，适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位的测试需求。
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详细介绍:SX1934B型数字式四探针测试仪是一款多用途综合测量装置，可测量半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻，适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位的测试需求。