描述:该文档介绍了SN54LVTH18512、SN54LVTH182512、SN74LVTH18512和SN74LVTH182512等型号的特点特性。这些产品是3.3V ABT SCAN测试设备，具有18位通用总线收发器。支持混合模式信号操作，兼容5V输入和输出电压，适用于3.3V VCC。支持未调节电池操作至2.7V。UBT（通用总线收发器）结合了D型锁存器和D型触发器，可在透明、锁存或时钟模式下操作。数据输入端具有总线保持功能，无需外部上拉/下拉电阻。’LVTH182512设备的B端输出具有等效的25-Ω串联电阻，因此无需外部电阻。兼容IEEE Std 1149.1-1990（JTAG）测试访问端口和边界扫描架构。SCOPE指令集符合IEEE Std 1149.1-1990的要求，包括必选指令和可选的CLAMP和HIGHZ，支持输入的并行签名分析，从输出产生伪随机模式，采样输入/切换输出，从输出计数二进制，设备识别和偶校验操作码。可选择的封装选项包括64引脚塑料薄缩小外形（DGG）和64引脚陶瓷双平板（HKC）封装，中心距为0.5mm。
描述:TEXAS INSTRUMENTS SN54LVTH18512, SN54LVTH182512, SN74LVTH18512, SN74LVTH182512 数据手册,查找说明书,说明书,指南,手册,用户指南,使用说明,操作说明,说明书下载,说明书大全
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desc:该文档介绍了SN54LVTH18512、SN54LVTH182512、SN74LVTH18512和SN74LVTH182512等型号的特点特性。这些产品是3.3V ABT SCAN测试设备，具有18位通用总线收发器。支持混合模式信号操作，兼容5V输入和输出电压，适用于3.3V VCC。支持未调节电池操作至2.7V。UBT（通用总线收发器）结合了D型锁存器和D型触发器，可在透明、锁存或时钟模式下操作。数据输入端具有总线保持功能，无需外部上拉/下拉电阻。’LVTH182512设备的B端输出具有等效的25-Ω串联电阻，因此无需外部电阻。兼容IEEE Std 1149.1-1990（JTAG）测试访问端口和边界扫描架构。SCOPE指令集符合IEEE Std 1149.1-1990的要求，包括必选指令和可选的CLAMP和HIGHZ，支持输入的并行签名分析，从输出产生伪随机模式，采样输入/切换输出，从输出计数二进制，设备识别和偶校验操作码。可选择的封装选项包括64引脚塑料薄缩小外形（DGG）和64引脚陶瓷双平板（HKC）封装，中心距为0.5mm。